期刊档案 · INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
Metrology and Measurement Systems
ISSN 0860-8229 · eISSN 2300-1941 · Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation · Poland · Quarterly · 创刊 1988
Metrology and Measurement Systems 中科院 工程技术 4区（2025 年升级版），影响因子 1.21，完全开放获取，免版面费，投稿社区反馈审稿6–12 周，录用比例容易（社区反馈），2025 年发文 55 篇，SCIE、Scopus 收录。
研究范围
研究范围与定位
Metrology and Measurement Systems 由 Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation 出版，属中科院工程技术大类（2025 升级版4区）。按 OpenAlex 近年发文统计，该刊主要发表 Sensor Technology and Measurement Systems、Scientific Measurement and Uncertainty Evaluation、Advanced Measurement and Metrology Techniques 等主题的论文，这 3 个主题约占 32.8%，主导子领域为 Biomedical Engineering。（根据 OpenAlex 主题统计与中科院分区数据生成）
Contributions are invited on all aspects of the research, development and applications of the measurement science and technology. The list of topics covered includes: theory and general principles of measurement; measurement of physical, chemical and biological quantities; medical measurements; sensors and transducers; measurement data acquisition; measurement signal transmission; processing and data analysis; measurement systems and embedded systems; design, manufacture and evaluation of instruments. The average publication cycle is 6 months.
来源：LetPub
研究方向（LetPub）：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
主要研究主题 OpenAlex 近年发文统计，占比为近似值
- Sensor Technology and Measurement SystemsComputer Science14.7%
- Scientific Measurement and Uncertainty EvaluationDecision Sciences9.1%
- Advanced Measurement and Metrology TechniquesEngineering9%
- Advanced Electrical Measurement TechniquesEngineering7.4%
- Advanced Sensor Technologies ResearchEngineering5.7%
- Surface Roughness and Optical MeasurementsEngineering4.3%
- Optical measurement and interference techniquesComputer Science4.2%
- Flow Measurement and AnalysisEngineering3.3%
分区与收录
学科分区与数据库收录
中科院期刊分区表
期刊分区表（ 2025年3月升级版）工程技术 4 区
| 类别 | 学科 | 分区 |
|---|---|---|
| 大类 | 工程技术 | 4 区 |
| 小类 | 仪器仪表INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | 4 区 |
Top 期刊：否综述期刊：否
《新锐期刊分区表》（ 2026年3月发布）工程技术 4 区
| 类别 | 学科 | 分区 |
|---|---|---|
| 大类 | 工程技术 | 4 区 |
| 小类 | 仪器仪表INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | 4 区 |
Top 期刊：否综述期刊：未标注
期刊分区表（ 2023年12月旧的升级版）工程技术 4 区
| 类别 | 学科 | 分区 |
|---|---|---|
| 大类 | 工程技术 | 4 区 |
| 小类 | 仪器仪表INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | 4 区 |
Top 期刊：否综述期刊：否
数据库收录
SCIEScopusLetPub
国际期刊预警名单：各版本均未列入LetPub
不同版本、大类与小类分别展示，不将不同评价口径合并为一个分区值；投稿与考核前请确认所在机构采用的版本。
指标
影响力指标与发文规模
影响力指标
- 影响因子
- 1.21LetPub ·
- CiteScore 2026-06
- 2.1LetPub ·
- SJR 2026-06
- 0.28LetPub ·
- SNIP 2026-06
- 0.66LetPub ·
- h-index
- 24LetPub ·
- h-index
- 39OpenAlex ·
- i10-index
- 343OpenAlex ·
- 两年平均被引
- 0.88OpenAlex ·
- 自引率
- 30.8%LetPub ·
- Gold OA 文章占比
- 93.13%LetPub ·
发文规模
- 年文章数
- 55LetPub ·
逐年发文量 OpenAlex 统计 · 累计 1,226 篇 · 当年数据不完整
| 年份 | 发文量 | 其中 OA | 被引 |
|---|---|---|---|
| 2026 | 14 | 14 | 0 |
| 2025 | 55 | 55 | 30 |
| 2024 | 53 | 53 | 77 |
| 2023 | 43 | 43 | 110 |
| 2022 | 33 | 33 | 114 |
| 2021 | 65 | 65 | 380 |
不同来源的统计口径与观测时间不同，页面保留各来源原值；“出版商公布”为期刊官网自述数据。
审稿与录用
审稿周期与录用情况
- 平均审稿速度（社区反馈）
- 较慢,6-12周LetPub ·
- 平均录用比例（社区反馈）
- 容易LetPub ·
- 评审方式
- 匿名同行评审LetPub
社区反馈来自投稿者样本，置信度 0.5，不代表期刊承诺；“出版商公布”的时间节点定义以官网为准。
费用与开放获取
版面费与开放获取政策
完全开放获取OpenAlex
所有文章开放获取，通常向作者收取文章处理费（APC）。
| 来源 | 文章处理费 | 费用减免 | 许可证 | 观测时间 |
|---|---|---|---|---|
| LetPub | 无文章处理费 | 无 | — |
费用以期刊官网为准；不同来源的观测时间可能不同，页面保留各来源原值，不做平均。
基本信息
出版信息与官方入口
- 出版商
- Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation
- 出版国家或地区
- Poland
- 出版语言
- English
- 出版周期
- Quarterly
- 创刊年份
- 1988
- ISSN
- 0860-8229
- 电子版 ISSN
- 2300-1941
常见问题
关于 Metrology and Measurement Systems 的常见问题
Metrology and Measurement Systems 是中科院几区期刊？
2025 年升级版分区表中，Metrology and Measurement Systems 为工程技术 4区，小类 仪器仪表 4 区。2026 年新锐版分区表中为工程技术 4区。不同版本与大小类分区不能混用。
Metrology and Measurement Systems 的影响因子是多少？
LetPub 汇总的最新公布影响因子为 1.21，CiteScore 为 2.1，h-index 为 39。
Metrology and Measurement Systems 的审稿周期多长？
投稿社区反馈的平均审稿速度为6–12 周，平均录用比例反馈为“容易”。文章统计只含被录用的稿件，出版商数据口径以官网为准，社区反馈来自投稿者样本，均不代表期刊承诺。
Metrology and Measurement Systems 被哪些数据库收录？
据 LetPub 与 DOAJ 记录，Metrology and Measurement Systems 被 SCIE、Scopus 收录。
Metrology and Measurement Systems 是开放获取期刊吗？版面费多少？
Metrology and Measurement Systems 为完全开放获取。不收取文章处理费。
来源与更新
本页事实来自 LetPub、OpenAlex；每个数字旁标注来源与观测日期，冲突数据保留各来源原值。LetPub 原始详情页：查看 ↗（2026-08-25 归档）。最近更新：。